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美国Microtrac MRB麦奇克 纳米粒度仪zeta电位分析仪NANOTRAC FLEX
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美国Microtrac MRB麦奇克 纳米粒度仪zeta电位分析仪NANOTRAC FLEX

NANOTRACFLEX纳米粒度分析仪采用全新的动态光背散射技术(DLS),***引入由于颗粒在悬浮体系中的布朗运动而产生频率变化的能谱概念,快速准确地得到被测体系的纳米粒度分布,外置固定式光学探头满足任何应用需求。

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产品特性:进口粒度仪是否进口:否产地:美国
加工定制:否品牌:美国Microtrac MRB麦奇克型号:NANOTRAC FLEX
类型:纳米粒度仪测量范围:0.3nm-10um

美国Microtrac MRB麦奇克 纳米粒度仪zeta电位分析仪NANOTRAC FLEX详细介绍

美国麦奇克

Microtrac作为一个颗粒表征解决方案的供应商,提供三条产品线,在三大洲拥有研发和技术中心。

散射光分折:  作为粒度测量的通用方法—静态激光衍射法的领.导.者,还提供先.进的动态光散射纳米粒度仪,用于纳米颗粒的表征。该产品线的开发和生产地点位于美国的宾夕法尼亚州。

图像分析: 基于动态图像分析技术,为颗粒大小和形态的测定提供了高质量的PartAn系列测量系统。这些图像分析仪的开发和生产地点位于德国的哈恩。

比表面和孔径测量: 另外一条产品线采用气体吸附法为粉体样品的比表面值,BET值和孔径测量提供了吸附系列的分析仪器。开发和生产以及装配地点位于日本大阪的表面分析中心。


NANOTRAC FLEX —— 真正的180° 动态光背散射测量技术

NANOTRAC FLEX独特的探头设计可以实现只需要一滴液体滴在探头的顶部进行测量(图1), 这样测量只需最小的样品量2μl。探头同时也适合1.5mL Eppendorf 管(图2)。对于NANOTRAC FLEX 来说,每个容器都可以用作测量池(图3),不需要任何的比色皿。NANOTRAC FLEX 的探头设计可以实现在一个反应过程中离线或在线监测颗粒的粒径变化。在反应中,分散相通常处于是流动或搅拌中, 分散相的运动将会掩盖布朗运动,在这种情况下用DLS测量几乎不可能的,为了测量搅拌中或流动的液体,Microtrac研发了一款FlowGuard探头(图4),FlowGuard探头是在原来的探头周围加了PTFE 外壳, 它可以防止测量表面受到湍流的影响,外壳上孔口能够确保样品不停的交换,在探头的界面处同时减缓搅拌的运动速度。这种设计确保测得悬浮液粒度分布的准确性和代表性。NANOTRAC  FLEX探头在测量任何类型样品时都非常容易和快速的清洗。




此款纳米粒度仪可以配合刚上市的Zeta电位分析仪STABINO ZETA使用,能够实现不同溶液环境下的粒度测量以及Zeta电位测量。通过自动滴定的方式能够快速的对不同配方的稳定性进行评价,主要应用如下:

· pH滴定


- 确定等电点 

- 确定稳定的pH区间

· 聚电解质滴定

-稳定性

-表面电荷密度/总的电荷量

· 盐滴定

-Zeta电位和稳定性

· 分散剂的滴定

- 优化分散剂用来

· 制剂配方

- 用添加物滴定




产品参数

测量范围0.3nm-10?m
最小样品量2 μl
样品浓度<40 vol.%
具有浓度测量功能
实验室/在线测量


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